老化座助力客户完成芯片老化测试工作

随着电子产品更新换代速度的加快，消费者对产品的挑剔不仅仅局限于产品的外观，对电子产品内在的质量、稳定性也有了诸多要求。而芯片在电子产品中如同心脏一般起着至关重要的作用。一颗芯的好坏，直接影响着电子产品的使用寿命。所以，现在的芯片在封装好出厂前，芯片厂商都还会再进行严密的温度加速老化和HAST的温湿度老化测试。

老化HTOL【High Temperature Operating Life】，就是在高温下加速芯片老化，然后估算芯片寿命。还有HAST【Highly Accelerated Stress Test】测试芯片封装的耐湿能力，待测产品被置于严苛的温度、湿度及压力下测试，湿气是否会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体从而损坏芯片。

芯片老化座在芯片的HTOL和HAST老化试验起着重要的作用。它能够帮助芯片在严苛的测试环境下很好的接触，从而完成测试工作。鸿怡电子生产的IC老化座，在老化座市场具有极高的占有率。无论是价格还是产品的多元化上，都是客户的不二之选。目前，我们的IC老化座，针对市面上的统用标准型IC，会采用现货的开模弹片来制作。而针对非常规类芯片的老化测试，可使用探针的方式.一切以为稳定测试、降低成本为主要宗旨。