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QFN-p0.4-48P(6.0X6.0)

QFN-p0.4-48P(6.0X6.0)

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产品参数
编号 型号 pin数 编号 型号 pin数 pin距
双排双pin 单排单pin
1 QFN16-0.4(3.0X3.0) 16 19 QFN20-0.4(3.0X3.0) 20 0.4
2 QFN32-0.4(4.0X4.0) 32 20 QFN28-0.4(4.0X4.0) 28 0.4
3 QFN40-0.4(5.0X5.0) 40 21 QFN36-0.4(5.0X5.0) 36 0.4
4 QFN48-0.4(6.0X6.0) 48 22 QFN52-0.4(6.0X6.0) 52 0.4
5 QFN56-0.4(7.0X7.0) 56 23 QFN60-0.4(7.0X7.0) 60 0.4
6 QFN64-0.4(8.0X8.0) 64 24 QFN68-0.4(8.0X8.0) 68 0.4
7 QFN80-0.4(9.0X9.0) 80 25 QFN76-0.4(9.0X9.0) 76 0.4
8 QFN88-0.4(10X10) 88 26 QFN92-0.4(10X10) 92 0.4
9 QFN104-0.4(12X12) 104 27 QFN108-0.4(12X12) 108 0.4
10 QFN16-0.5(3.0X3.0) 16 28 QFN12-0.5(3.0X3.0) 12 0.5
11 QFN24-0.5(4.0X4.0) 24 29 QFN20-0.5(4.0X4.0) 20 0.5
12 QFN32-0.5(5.0X5.0) 32 30 QFN28-0.5(5.0X5.0) 28 0.5
13 QFN40-0.5(6.0X6.0) 40 31 QFN36-0.5(6.0X6.0) 36 0.5
14 QFN48-0.5(7.0X7.0) 48 32 QFN44-0.5(7.0X7.0) 44 0.5
15 QFN56-0.5(8.0X8.0) 56 33 QFN52-0.5(8.0X8.0) 52 0.5
16 QFN64-0.5(9.0X9.0) 64 34 QFN60-0.5(9.0X9.0) 60 0.5
17 QFN72-0.5(10X10) 72 35 QFN68-0.5(10X10) 68 0.5
18 QFN88-0.5(12X12) 88 36 QFN84-0.5(12X12) 84 0.5
接触力 弹簧 产品详细参数图纸PDF: 点击查看
35g每Pin(正常) 不锈钢,钝化
参数图
产品性能
绝缘阻抗 DC 100V 1000MΩ以上
耐 电 压 AC100V在一分钟内无异常
接触阻抗 测定电流10mA开放端电压20mV以下,100MΩ以下
使用温度 -40°C~+150°C
使用寿命 100000次以上
材质和组件
测 试 座 PEI
端子内层 铍铜
端子表面选择性镀金,镀镍底覆盖
产品特点

可测芯片分为单排单pin数,和双排双pin数

可测芯片尺寸范围为3×3·12×12mm(不包括11×11mm)

可测芯片厚度范围0.5·1.2mm(超过1.2mm可定制)

QFN 0.4 0.5

1.产品结构&电气性能稳定,使用操作简便。

2.胶体使用PEI&PES耐高低温(-55 到+170度)

4.金属导体使用日本NGK铍铜,耐疲劳及高低温(-50度+900度)和优良的导电性。

5.使用寿命达10万次


注意事项

•此款座子有翻盖弹片/下压弹片两种结构,采用一次性开模成型,品质好,寿命10万次以上。

*座子和PCB板有两种连接方式:
1接触(顶板式,*完全取代探针结构测试座)
2焊接

•采用浮板结构,有效的保护针,针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层而不会损伤锡球。


对于1C有球无球都能测试

郡仁司(JRS )

是国内首家自主研发、生产、销售1C测试,烧录,老化的企此,打破了曰美等国长期对该行业的垄断地位。

公司自2006年成立以来,一直致力于为1C测试,烧录,老化行业提供增值服努。

我们致力于向芯片设计公司、芯片封装测试厂、芯片广泛的应用领域(MEMORY.SDRAM,PC,AUDIO,VIDEO以及通讯,汽车电子等)提供测试(Testing),老化(Burn-in),烧录(Programming)等各种方案。

公司经过多年发展,累积了丰富的经验及良好的口碑。

主要产品:BGA、CSP、QFN、MLF、PLCC、DIP、SSOP、SOP、TSOP、TSSOP、QFP、SOJ、SOT等,同时可根据不同客户的特殊需求,提供高品质的测试插座定制服努。

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