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TQFP-64-0.5-JRS

TQFP-64-0.5-JRS

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产品图片
产品参数
编号 pin数 pin距 备注
QFP-32-0.8-01 32 0.8
QFP-48-0.5-01 48 0.5
QFP-64-0.5-01 64 0.5
QFP-100-0.5-01 100 0.5
接触力 弹簧 产品详细参数图纸PDF: 点击查看
15克-180克在0.2毫米-0.9毫米之间的接触距离 不锈钢,钝化
参数图
产品性能
绝缘阻抗 DC 100V 1000MΩ以上
耐 电 压 AC 700V 在一分钟内无异常
接触阻抗 测定电流10mA开放端电压20mV以下,30mΩ以下
使用温度 -65°C~+150°C
使用寿命 100000次以上
材质和组件
测 试 座 PEI
端子内层 铍铜
端子表面选择性镀金,镀镍底覆盖
芯片尺寸
测试座尺寸
Part Name Pin Count IC Body
A×B
IC Tip to Tip
C×D
Paralle Clamp
M
IC Height
E
Socket Dim
G×H
Type
QFP-32-0.8-0.1-JRS 32 7.6×7.6 9×9 8.7 1.4 30×40.5 CL
QFP-48-0.5-0.1-JRS 48 7.6×7.6 9×9 8.5 1.4 29×37 CL
QFP-64-0.5-0.1-JRS 64 10×10 12×12 11.6 1.4 32×40 CL
QFP-100-0.5-0.1-JRS 100 14×14 16×16 15.4 1.5 36×44 CL
QFP-48-0.5-JRS 48 7.6×7.6 9×9 / 1.4 24×24 DT
QFP-64-0.5-JRS 64 10×10 12×12 / 1.4 27×27 DT
QFP-80-0.5-JRS 80 12.6×12.6 14×14 / 1.4 29×29 DT
QFP-100-0.5-JRS 100 14×14 16×16 / 1.5 31×31 DT

*CL=翻盖式 OT=下压式

端子接触方式
QFP 0.5 0.8

1.产品结构&电气性能稳定,使用操作简便。

2.胶体使用PEI&PES耐高低温(-55 到+170度)

4.金属导体使用日本NGK铍铜,耐疲劳及高低温(-50度+900度)和优良的导电性。

5.使用寿命达10万次。

注意事项

•此款座子有翻盖弹片/下压弹片两种结构,采用一次性开模成型,品质好,寿命10万次以上。

*座子和PCB板有两种连接方式:
1接触(顶板式,*完全取代探针结构测试座)
2焊接

•采用浮板结构,有效的保护针,针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层而不会损伤锡球。


对于1C有球无球都能测试

郡仁司(JRS )

是国内首家自主研发、生产、销售1C测试,烧录,老化的企此,打破了曰美等国长期对该行业的垄断地位。

公司自2006年成立以来,一直致力于为1C测试,烧录,老化行业提供增值服努。

我们致力于向芯片设计公司、芯片封装测试厂、芯片广泛的应用领域(MEMORY.SDRAM,PC,AUDIO,VIDEO以及通讯,汽车电子等)提供测试(Testing),老化(Burn-in),烧录(Programming)等各种方案。

公司经过多年发展,累积了丰富的经验及良好的口碑。

主要产品:BGA、CSP、QFN、MLF、PLCC、DIP、SSOP、SOP、TSOP、TSSOP、QFP、SOJ、SOT等,同时可根据不同客户的特殊需求,提供高品质的测试插座定制服努。

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